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應材指出,SiC 晶圓表面品質任何缺陷都會影響到後續系統層開發,因此對 SiC 元件的製造至關重要,...

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應材指出,SiC 晶圓表面品質任何缺陷都會影響到後續系統層開發,因此對 SiC 元件的製造至關重要,而自家的 Mirra Durum CMP 系統可將成品晶圓的表面粗糙度降低 50 倍!


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